XRP09130 アップグレードセット構成 |
|
ケーブルアダプタ
|
07349-00 |
| ベンチ |
08286-00 |
| スライドベンチh=30mm |
08286-01 |
| GM計数管 |
09005-00 |
| KBr結晶 |
09056-01 |
| X線吸収セット |
09056-02 |
| ニッケルホイル付X線照準 |
09056-03 |
| LiF結晶 |
09056-05 |
| X線照準1mm |
09057-01 |
|
X線照準2mm
|
09057-02
|
| X線照準5mm |
09057-03 |
| コンプトン散乱ユニット |
09057-04 |
|
| ゴニオメータ |
09057-10 |
| ベンチ |
09057-18 |
| 蛍光X線スクリーン |
09057-26 |
| 銅X線管 |
09057-50 |
| モリブデンX線管 |
09057-60 |
| 鉄X線管 |
09057-70 |
| タングステンX線管 |
09057-80 |
| X線ユニット |
09057-99 |
| ジルコニウムホイル付X線照準 |
09058-03 |
| X線ソフト |
14414-61 |
| USBケーブル1.8M |
14608-00 |
|
X線ユニット仕様 |
ゴニオメータ仕様 |
|
|
|
寸法・質量
実験エリア
電 源
管電圧
管電流
漏洩X線量
操作環境
温度範囲
|
：W682 x D 450 H620mm、約55kg
：W440 x D354 x H345mm
：AC100V/2A又は200V/1A 50/60Hz
：0.0～35kV
：0.0～1.0A
：1μSv/hr以下
：+5℃から+40℃
：70%未満
|
角度ステップ
速度
測定範囲
計測管測定範囲
PC（別売）環境
|
：0.1～10°
：0.5～100.0s/ステップ
：0～360°
：-30°～+170°
：Pentium 3 プロセッサ以上
512 MB RAM,
1GB以上の空, DVDドライブ,
USB 2.0
Microsoft ®Windows XP 以上
|
|
|
|
 |
 |
タングステン（W）X線管の特性実験状況（ゴニオメータ、GM計測管、LiF結晶設置） ※PCは含まれておりません
クリックすると拡大します
|
アップグレードセットの主な実験内容 |
|
実験0010
ガイガー・ミュラーカウンターチューブ（GM計数管）の特性
タングステン（W）ターゲットのX線管から放射されるX線をGM計数管で計測すると共に、GMカウンターチューブの電圧を変化させながら、陰極と陽極の間に流れるパルス電流の回数を計測します。
|
|
実験0020
物質のX線透視画像
タングステン（W）ターゲットのX線管から発生した1次X線を利用して、試料の透視画像を蛍光スクリーンに映し出します。
X線管の陽極電流と電圧を変化させながら透視画像の変化を観察します。
|
実験0010 X線透視参考画像
クリックすると画像が拡大します |
|
実験0030
X線照射による放射エネルギー（色）の観察
タングステン（W)ターゲットのX線管から発生する1次X線を異なる厚さと種類を持つ試料（プレキシガラス、アルミ、鉄等）に照射し、X線吸収の違いを蛍光スクリーンで観察します。
|
実験0030 X線吸収参考画像
クリックすると画像が拡大します |
|
実験0101, 0201, 0301, 2801
タングステン（W）、銅（Cu）、モリブデン（Mo）、鉄（Fe）ターゲット
X線管の特性
各種ターゲットのX線管から発生した1次X線を、単結晶(LiF又はKBr)に角度を変えながら入射します。ブラッグ条件を満たした蛍光Ｘ線の強さ（GMカウンター）と角度θを計測し、X線スペクトルを記録します。これは、分子構造を決定するための単結晶X線回析で、記録されたX線スペクトルからタ各種ターゲット（W,
Cu, Mo, Fe）X線管の特性を分析します。
|
実験0101 銅ターゲットX線の強さ（LiF単結晶フィルタ）
クリックすると画像が拡大します
|
|
実験0401
X線管陽極の電流と電圧変化がX線に及ぼす影響
銅（Cu）ターゲットのX線管から発生した1次X線を、LiF単結晶に角度を変えながら入射します。ブラッグ条件を満たした蛍光Ｘ線の強さ（GMカウンター）と角度θを計測し、X線スペクトルを記録します。
X線管陽極の電流/電圧の変化がKα、Kβ線に及ぼす影響を計測します。
|
実験0401 陽極電流の変化とKα、Kβ線の強さ参考図
クリックすると画像が拡大します |
|
実験0501, 0601
モリブデン又は銅ターゲットX線の単色化（フィルタ法）
モリブデン（Mo）又は銅（Cu）ターゲットのX線管から発生した1次X線を、単結晶（LiF又はKBr）を使用して、ブラック条件を満たした特性Ｘ線スペクトルを解析すると共に、ジルコニウム箔（フィルター）を用いて単一波長のX線（単色X線）を使用した特性X線スペクトルを分析します。X線管で発生する1次X線は多色ですが、多数の実験（例えば結晶構造に関するデバイ-シェラー実験等）は単色Ｘ線を必要とします。単結晶や金属箔を用いてX線をフィルタに通すことで単色X線を発生することができます。
|
|
実験0701, 0801
MoとFeターゲットX線管から発生する特性X線Kαの波長と強さ
MoとFeターゲットのX線管から発生した1次X線を、LiF単結晶を使用して、ブラック条件を満たした特性Ｘ線の強さ（GMカウンター）を解析すると共に、特性X線Kα1とKα2の波長と強さを測定し、理論値と比較検証します。
ピークの出現する角度を読みとり、ブラッグの法則より波長λ（エネルギー）を決定します。
|
|
実験0901
デュエン・ハントの法則とプランク定数
銅（Cu）ターゲットX線管とLiF単結晶を使用して、さまざまな陽極電圧における特性Ｘ線スペクトルを分析します。
陽極の電圧変化によって制動放射されるX線の最短波長を測定します。
X線の最短波長λminは、デュエン・ハントの法則を確認し、プランク定数を決定します。
|
|
実験1001
X線管（Cu, Mo, Fe）における特性X線とモーズリーの法則
X線管の異なる陽極ターゲット（Cu, Mo, Fe）とLiF単結晶を使用して発生する特性X線から、モーズリーの法則を確認します。
モーズリーの法則は、特性X線スペクトルKαのエネルギーと原子番号の関係を表します。
|
|
実験1101
各種金属箔を使用したX線の吸収
銅（Cu）ターゲットX線管とLiF単結晶を使用して発生した単一波長のX線（単色X線）は、異なる厚さと種類を持った金属箔の吸収特性を分析します。
|
実験1101 銅の吸収端参考図 UA=25kV, λK=138pm
クリックすると画像が拡大します |
|
実験1701
X線のコンプトン散乱
銅（Cu）ターゲットのX線管からの多色X線をアルミニウムと散乱体（アクリルブロック）に照射します。散乱X線はGMカウンターチューブによって計測され、コンプトン波長は事前に計測された透過曲線を基に決定されます。
|
|
Copyright 2012 MEGACHEM CO.,LTD. All Rights Reserved |
XRP09130 X線分析実習装置 アップグレードセット
