XRP09120 ベーシックセット構成 |
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ケーブルアダプタ
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07349-00 |
| スライドベンチ |
08286-00 |
| スライドベンチh=30mm |
08286-01 |
| GM計数管 |
09005-00 |
| KBr結晶 |
09056-01 |
| X線吸収セット |
09056-02 |
| LiF結晶 |
09056-05 |
| X線照準1mm |
09057-01 |
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X線照準2mm
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09057-02
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| X線照準5mm |
09057-03 |
| ゴニオメータ |
09057-10 |
| ベンチ |
09057-18 |
| 蛍光X線スクリーン |
09057-26 |
| タングステンX線管 |
09057-80 |
| X線ユニット |
09057-99 |
| X線ソフト |
14414-61 |
| USBケーブル1.8M |
14608-00 |
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X線ユニット仕様 |
ゴニオメータ仕様 |
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寸法・質量
実験エリア
電 源
管電圧
管電流
漏洩X線量
操作環境
温度範囲
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：W682 x D 450 H620mm、約55kg
：W440 x D354 x H345mm
：AC100V/2A又は200V/1A 50/60Hz
：0.0～35kV
：0.0～1.0A
：1μSv/hr以下
：+5℃から+40℃
：70%未満
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角度ステップ
速度
測定範囲
計測管測定範囲
PC（別売）環境
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：0.1～10°
：0.5～100.0s/ステップ
：0～360°
：-30°～+170°
：Pentium 3 プロセッサ以上
512 MB RAM,
1GB以上の空, DVDドライブ,
USB 2.0
Microsoft ®Windows XP 以上
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タングステン（W）X線管の特性実験状況（ゴニオメータ、GM計測管、LiF結晶設置） ※PCは含まれておりません
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ベーシックセットの主な実験内容 |
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実験0010
ガイガー・ミュラーカウンターチューブ（GM計数管）の特性
タングステン（W）ターゲットのX線管から放射されるX線をGM計数管で計測すると共に、GMカウンターチューブの電圧を変化させながら、陰極と陽極の間に流れるパルス電流の回数を計測します。
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実験0020
物質のX線透視画像
タングステン（W）ターゲットのX線管から発生した1次X線を利用して、試料の透視画像を蛍光スクリーンに映し出します。
X線管の陽極電流と電圧を変化させながら透視画像の変化を観察します。
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実験0010 X線透視参考画像
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実験0030
X線照射による放射エネルギー（色）の観察
タングステン（W)ターゲットのX線管から発生する1次X線を異なる厚さと種類を持つ試料（プレキシガラス、アルミ、鉄等）に照射し、X線吸収の違いを蛍光スクリーンで観察します。
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実験0030 X線吸収参考画像
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実験0401
X線管陽極の電流と電圧変化がX線に及ぼす影響
タングステン（W）ターゲットのX線管から発生した1次X線を、LiF単結晶に角度を変えながら入射します。ブラッグ条件を満たした蛍光Ｘ線の強さ（GMカウンター）と角度θを計測し、X線スペクトルを記録します。
X線管陽極の電流/電圧の変化がKα、Kβ線に及ぼす影響を計測します。
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実験0401 陽極電流の変化とKα、Kβ線の強さ参考図
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実験0901
デュエン・ハントの法則とプランク定数
タングステン（W）ターゲットX線管とLiF単結晶を使用して、さまざまな陽極電圧における特性Ｘ線スペクトルを分析します。
陽極の電圧変化によって制動放射されるX線の最短波長を測定します。
X線の最短波長λminは、デュエン・ハントの法則を確認し、プランク定数を決定します。
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実験1101
各種金属箔を使用したX線の吸収
タングステン（W）ターゲットX線管とLiF単結晶を使用して発生した単一波長のX線（単色X線）は、異なる厚さと種類を持った金属箔の吸収特性を分析します。
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実験1101 銅の吸収端参考図 UA=25kV, λK=138pm
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実験 2801
タングステン（W）ターゲットX線管の特性
タングステン（W）ターゲットのX線管から発生した1次X線を、LiF単結晶に角度を変えながら入射します。ブラッグ条件を満たした蛍光Ｘ線の強さ（GMカウンター）と角度θを計測し、X線スペクトルを記録します。これは、分子構造を決定するための単結晶X線回析で、記録されたX線スペクトルからタングステン（W）ターゲットX線管の特性を分析します。
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実験2801 X線スペクトル参考図
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XRP09120 X線分析実習装置 ベーシックセット
